FIB-M 微区透反射探头

      FIB-M 微区透反射探头 采用共轭成像原理，利用光纤作为 Pin Hole，在显微尺度上进行空间分辨的光谱测量。同时，利用专利的微区指示照明技术，精确地将测量位置标记在视野之中。最终为您带来一款能测“微区”透反射光谱的探头。

      典型应用领域：
       纳米线荧光   纳米线通常具有小于 1μm 的直径，并且不同直径纳米线中所能支持的光学模式也不同，因此为了分析每根纳米线的发光特性，需要能够在微米级尺度准确地测量光谱。
       微球散射   不同数量微球组成的团簇，其光学模式也不同，需要能够将光谱测量区域定位在团簇之内。
       MEMS 器件   MEMS 器件具有微米级尺寸，需要能够采集器件内局部特征位置的光谱。

技术参数

性能参数